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簡要描述：零下30度低溫試驗箱該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。
產(chǎn)品型號廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家更新時間2024-11-09訪 問 量1688產(chǎn)品分類
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| 品牌 | 愛佩科技/A-PKJ | 價格區(qū)間 | 1萬-2萬 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 文體,電子/電池,紡織/印染 |
零下30度低溫試驗箱該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
按照下列標(biāo)準(zhǔn)或其結(jié)合為依據(jù)而制造：
GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
零下30度低溫試驗箱主要技術(shù)指標(biāo)：
1、溫度范圍：-70℃、-40℃、-20℃、0℃～+150℃
2、溫度波動度：±0.5℃
3、溫度偏差：≤2℃
4、升溫時間：每分鐘約3℃（非線性空載）
5、降溫時間：每分鐘約1℃（非線性空載）
安全保護裝置：
1、電源超載、控制回路過載、短路保護
2、接地保護、電機過載保護
3、超溫保護
4、為保護設(shè)備,所有報警均會自動切斷電源，并發(fā)出聲訊提示。
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